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PDF STC15F2K48S2 Data sheet ( Hoja de datos )
| Número de pieza | STC15F2K48S2 | |
| Descripción | MCU | |
| Fabricantes | STC MCU | |
| Logotipo |  |
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STC15F2K60S2系列单片机器件手册
STC15F2K08S2
STC15L2K08S2
STC15F2K16S2
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STC15F2K32S2 STC15L2K32S2
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STC15F2K56S2
STC15L2K56S2
STC15F2K60S2
STC15L2K60S2
1 page  
6.2 中断向量入口地址/查询次序/优先级/请求标志/允许位表......... 267
6.3 在Keil C中如何声明中断函数...................................... 268
6.4 中断寄存器......................................................... 269
6.5 中断优先级......................................................... 277
6.6 中断处理........................................................... 279
6.7 外部中断........................................................... 281
6.8 中断的测试程序(C和汇编)......................................... 282
6.8.1 外部中断0(INT0)的测试程序........................................ 282
6.8.1.1 外部中断INT0(上升沿+下降沿)的测试程序(C和汇编).................................................. 282
6.8.1.2 外部中断INT0(下降沿)的测试程序(C和汇编)................................................................ 284
6.8.2 外部中断1(INT1)的测试程序........................................ 286
6.8.2.1 外部中断INT1(上升沿+下降沿)的测试程序(C和汇编).................................................. 286
6.8.2.2 外部中断INT1(下降沿)的测试程序(C和汇编)................................................................ 288
6.8.3 外部中断2(INT2)(下降沿中断)的测试程序(C和汇编).................. 290
6.8.4 外部中断3(INT3)(下降沿中断)的测试程序(C和汇编).................. 292
6.8.5 外部中断4(INT4)(下降沿中断)的测试程序(C和汇编).................. 294
6.8.6 T0扩展为外部下降沿中断的测试程序(C和汇编)........................ 296
——利用T0的外部计数方式........................ 296
6.8.7 T1扩展为外部下降沿中断的测试程序(C和汇编)........................ 298
——利用T1的外部计数方式........................ 298
6.8.8 T2扩展为外部下降沿中断的测试程序(C和汇编)........................ 300
——利用T2的外部计数方式........................ 300
6.8.9 用CCP/PCA功能扩展外部中断的测试程序(C和汇编)................... 303
第7章 定时器/计数器...................................................306
7.1 定时器/计数器的相关寄存器...................................... 306
7.2 定时器/计数器0工作模式.......................................... 312
7.2.1 模式0(16位自动重装载模式)及测试程序，建议只学习此模式足矣........ 312
2
7.2.1.1 定时器0的16位自动重装载模式的测试程序(C和汇编)........................ 313
7.2.1.2 定时器0对系统时钟或外部引脚T0的时钟输入进行可编程分频输出的测试程序... 316
——定时器0工作在16位自动重装载模式... 316
7.2.1.3 T0的16位自动重装模式(软硬结合)模拟10位或16位PWM输出的程序(C和汇编).. 319
7.2.1.4 T0的16位自动重装载模式扩展为外部下降沿中断的测试程序(C和汇编).................. 322
——利用T0的外部计数方式......... 322
7.2.2 模式1(16位不可重装载模式)，不建议学习............................ 324
7.2.3 模式2(8位自动重装载模式)，不建议学习............................. 325
7.2.4 模式3(分成两个8位定时器/计数器)，不建议学习...................... 328
7.3 定时器/计数器1工作模式.......................................... 329
5 Page 
16.定时器T2，也可实现1个16位重装载定时器,T2也可产生时钟输出T2CLKO
17.可编程时钟输出功能:T0在P3.5输出时钟/T1在P3.4输出时钟(可1~65536级分频输
出)，在P5.4口输出内部高精度R/C时钟IRC_CLKO(可分频IRC_CLK/�1��,��I��R���C��_�C�L��K�/�2�,
IRC_CLK/4)，T2在P3.0输出时钟。
18.硬件�看�门�狗(WDT)
19. 高速SPI串行通信端口，如果I/O口不够用，可外接74HC595(参考价0.21元)来扩展I/O口.
20.两个完全独立的串口/双串口，分时切换可当4个串口使用：
串口1(RxD/P3.0, TxD/P3.1)可以切换到(RxD_2/P1.6, TxD_2/P1.7),还可以切换到
(RxD_3/P3.6, TxD_3/P3.7)；
串口2(RxD2/P1.0, TxD2/P1.1)可以切换到(RxD2_2/P4.6, TxD2_2/P4.7)
21.先进的指令集结构，兼容普通8051指令集，有硬件乘法/除法指令
22.通用I/O口�（��4��2��/�3�8�/�3�0/�2�6个��）��，��夊�位�后�为�：�准��双�向�口�/�弱�上�拉�（�普��通�8�05�1�传�统�I�/�O�口�）�
可设置成四种模式：准双向口/弱上拉，�强��推�挽�/�强�上�拉�，�仅�为�输�入�/高�阻�，��开�漏��
每个I/O口驱动能力均可达到20mA，但40-pin及40-pin以上单片机的整个芯片最大不要超
过120mA，20-pin以上及32-pin以下(包括32-pin)单片机的整个芯片最大不要超过90mA.
23�.�封�装�：�L�QF��P�-�4�4�,�L�QF��P�-�3�2�,�S�O�P�-�3�2�,SOP-28, SKDIP-28, PDIP-40, PLCC-44(请尽量不要选择
此封装).
24.全部175oC 八小时高温烘烤，高品质制造保证
25.开发环境：在 �K�e��il��C� 开发环境中，选择 Intel 8052 编译即可
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| Número de pieza | Descripción | Fabricantes |
| SLA6805M | High Voltage 3 phase Motor Driver IC. |
 Sanken |
| SDC1742 | 12- and 14-Bit Hybrid Synchro / Resolver-to-Digital Converters. |
 Analog Devices |
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